星弧涂层厚度测量仪Starspherics-02是一款可用于各种薄膜和涂层厚度的测量仪器，所测量的涂层不受成份、硬度等各种因素的限制。操作简单，维护成本较其它类型的测厚仪更低。Starspherics-02膜厚测量原理是通过磨球在膜层上磨制成球面并测量球面的半径从而计算出膜层的厚度。测厚仪由球磨机构、高倍显微镜、微电脑及测试软件组成。
功能和技术特性 ：
| 测厚仪主要部件： ● 球磨机构 ● 高倍测量显微镜(350倍） |
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详细信息 星弧涂层厚度测量仪Starspherics-02是一款可用于各种薄膜和涂层厚度的测量仪器，所测量的涂层不受成份、硬度等各种因素的限制。操作简单，维护成本较其它类型的测厚仪更低。Starspherics-02膜厚测量原理是通过磨球在膜层上磨制成球面并测量球面的半径从而计算出膜层的厚度。测厚仪由球磨机构、高倍显微镜、微电脑及测试软件组成。
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