日本Otsuka Electronics(大塚电子)公司，旗下Photal品牌MCPD（多通道光学检测器）系列，专注专业专注于行业30年，**结构设计，体积小、重量轻、便于移动。
特色：
1.亮部至暗部的曝光细节，**的高动态范围检出能力，对于弱光的检出能力是普通光谱仪的5倍。*适用于光通量评价。
2.低迷光对应，*适合UV评价。相较于相同系列机型，迷光率仅约五分之一!
3.*短5msec~65sec*1的曝光时间。适用于量测微弱光源以及架设于生产线上即时检测等多元应用。
4.特殊方式缠绕的光纤设计，展现稳定的重复再现性。
5.小巧轻量化设计，相较于历代机型与同类型机型，容积比约减少60%。
3683C | 311C | 2480C | ||||
波长范围 | 360 ~ 830 nm | 360 ~ 1100 nm | 240 ~ 800 nm | |||
分光元件 | 光栅分光，F=3，f=85.8mm | |||||
感光元件 | CCD影像传感器(电子冷却) | |||||
512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | |
解析能力 | 1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.2nm | 0.6nm |
光纤规格 | 石英制光纤，金属包覆，固定口径∮12mm，长约2m | |||||
量测功能 | 发光光谱，穿透率、吸收率光谱，反射率光谱 | |||||
尺寸重量 | 110（W） x 230（H） x 282（D）mm ，约6kg | |||||
应用范围：
发光光谱分析仪系统
反射光谱分析仪系统
穿透、吸收光谱分析仪系统
色度光谱分析仪系统
光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
膜厚光谱分析仪系统
萤光光谱分析仪系统
双折射相位差光谱分析仪
微光学元件光谱分析仪系统