日本eager 粉体电导率测定单元
能够测量粉体材料在不同密度下的电阻值，并计算出相应的电阻率和电导率，从而得到描述粉体材料电性能的曲线。测试装置由压力机构、微位移测试装置、精密电桥、样品盒等组成。压力机构用于改变样品盒中粉体材料的体积，微位移测量装置实时记录体积的变化，精密电桥记录相应压力下的粉体电阻值。
适用于金属粉体材料、非金属粉体材料以及纳米材料电阻率和电导率的测量，它将在材料学、电子技术等行业发挥作用。
该设备可以一边加压一边同步测试粉体电导率，由四探针装置、直流恒流电源、数字电压表、压片装置和样品容器等组成。