HM-S100半自动检测系统
1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样，*快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
HM-S100半自动检测系统 新闻中心
商品分类
联系方式站内搜索 荣誉资质
友情链接
|
HM-S100半自动检测系统
详细信息 HM-S100半自动检测系统1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样，*快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。 |