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宁波瑞柯微智能科技有限公司  

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首页 > 方案案例 > 四探针薄膜方阻测试仪
方案案例
四探针薄膜方阻测试仪
2025-11-15IP属地 未知0

采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.

规格型号/ model

FT-341

FT-342

FT-343

FT-345

FT-346

FT-347

1.方块电阻sheet resistance

10-52×105Ω/□

10-42×105Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×104Ω /□

10-22×105Ω/□

10-22×104Ω/□

2.电阻率Resistivity

10-62×106Ω-cm

10-52×106Ω-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×105Ω-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×106Ω-cm

3.测试电流Test current

0.1μA.μA.0μA100µA1mA10mA100mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

0.1μA.μA10μA100µA1mA10mA100 mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择,