型号规格： HT-648
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| HT-648 | 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量，进行半导体电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。 |
核心产品详情
变温霍尔效应仪
产品参数
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发货地江苏省南京市鼓楼区
型号Lu-100A型
范围--
应用行业研究所
详细信息
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