型号规格： HT-648
技术指标：
|
型号 |
主要技术指标 |
| HT-648 | 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量，进行半导体电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。 |
变温霍尔效应仪 新闻中心商品分类
联系方式站内搜索 荣誉资质
友情链接
|
变温霍尔效应仪
详细信息 型号规格： HT-648 技术指标：
|