高速颗粒/粉末缺陷分析（去杂）分选机

粒子扫描系统PS-400C被广泛用于颗粒（粒子）的光学质量控制，对应期望处理量的不同，系统可以检测100微米以上的缺陷比如黑点、色差以及其他用户定义缺陷， 并将缺陷分为10个尺寸级别。此系统设计用于粒子生产原料的质量控制。所有的检测过程全自动执行，每个粒子都无遗漏地被检测分析。其主要应用于

PS-400C由机械部分和控制工作站两部分组成。机械装置负责待检测粒子的收集、分离并分散通过检测单元。

工作站包含图像处理单元和评估图像的硬件，用户界面如用户对话框通过显示器和键盘操作，图像可以在显示器上显示出来。

粒子样品先放置于料斗中，一个机械分离器使得粒子样品分散通过检测模块，此处两个相向配置的摄像机从两面拍摄获得材料的影像。