ZEM-3 Series可同时测量热电材料的塞贝克系数和电导率；该系列设备具备精度高，易于使用等特点；热电材料塞贝克系数的测量方法是基于JIS标准。
应用：
评估半导体、陶瓷、金属等材料的热电性能。
特点：
1. 使用高精度的红外金面反射炉和微加热器进行温差控制；
2. 欧姆接触V-I自检系统；
3.测量由电脑控制，可以在指定的温度和温差系进行测量，并消除黑暗电动势的影响。
设备型号：
型号： | ZEM-3L | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
测量内容： | 塞贝克系数、电导率 | ||
温度范围： | -80℃ to 100℃ | RT, 50 °C to 800 °C | RT, 50 °C to 1000 °C |
样品尺寸： | 2 to 4 mm square or φ x 5 to 22 mm length | ||
测量氛围： | 低压He气 | ||
可选配件： | 水冷循环系统； 热电发电仿真软件； 薄膜附件； | ||
测量实例 P型Si80Ge20 ：