用于故障分析和大型样品研究的**纳米计量工具
作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20，这款全球*精密的大型样品原子力显微镜，凭借着出色的数据准确性，在半导体和超平样品行业中大受赞扬。
*强大全面的分析功能
Park NX20具备****的功能，可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。****的精密度为您带来高分辨率数据，让您能够更加专注于工作。与此同时，真正非接触扫描模式让探针尖端更锋利、更耐用，无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和**。。
即便是**次接触原子显微镜的工程师也易于操作
ParkNX20拥有业界*为便捷的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也不用为此而时时不停的指导初学者。借助这一系列特点，您可以更加专注于解决更为重大的问题，并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。
为FA和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案
样品侧壁三维结构测量
NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量它们的角度。众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所必备的。
