±0.1%以下(380nm~410nm)±0.05%以下(410nm~900nm)±0.1%以下(380nm~400nm)±0.05%以下(400nm~900nm)±0.1%以下（1000~1650nm）直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时)厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时)约φ30um(使用50×对物镜时)

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探测器	Hamamatsu背照式2D-CCD	Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷)	Hamamatsu InGaAs探测器(制冷)
检测范围	380~1100nm	380~1100nm	900~1700nm
波长分辨率	1nm	1nm	3nm
信噪比	450:1	1000:1	10000:1
相对检测误差	＜0.75%	＜0.5%	＜0.5%
被测物再现性
测定方法	与标准物比较测定
单次测量时间	＜1s
精度	0.3nm
被测物N.A	0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸	被测物测定范围
设备重量	约22kg（光源外置）
设备尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境	水平且无振动的场所；温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露；
操作系统	Windows7~Windows10
软件	分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定