Sphere-3000光学元件反射率测量仪

Sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/**反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

仪器特点：

• CIE颜色测定 X Y色度图，x，y，L，a，b，饱和度，主波长等；

• 显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）；

• 消除背面反射光，无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率；

技术参数：

SPHERE-3000（II型）SPHERE-3000（III型）SPHERE-3000-NIR探测器Hamamatsu背照式2D-CCDHamamatsu背照式2D-CCD(制冷)Hamamatsu InGaAs探测器(制冷)检测范围380~1100nm380~1100nm900~1700nm波长分辨率1nm1nm3nm信噪比450:11000:110000:1相对检测误差＜0.75%＜0.5%＜0.5%被测物再现性±0.1%以下(380nm~410nm)±0.05%以下(410nm~900nm)±0.1%以下(380nm~400nm)±0.05%以下(400nm~900nm)±0.1%以下（1000~1650nm）测定方法与标准物比较测定单次测量时间＜1s精度0.3nm被测物N.A0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)被测物尺寸直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时)厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)被测物测定范围约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时)约φ30um(使用50×对物镜时)设备重量约22kg（光源外置）设备尺寸300(W)×550(D)×570(H)mm使用环境水平且无振动的场所；温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露；操作系统Windows7~Windows10软件分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定