| Optino 波前探测系统 |
|
不仅仅是一个波前探测系统，
更是一个完整光学综合测试系统
不仅可以用于实验室光学测试，
也可以适用于生产环境条件
| 可测试的光学元件和系统 |
|---|
- 透镜、非球面透镜
- 相机、手机摄像等镜头测试
- 棱镜
- 球面、非球面、平面镜
- 各种滤光片
- 隐形眼镜、眼科镜片
- 复杂光学系统
- 平视显示系统（HUD）
- 研磨板
- 晶圆（wafer)
- 激光
|
| 可测试评价的项目 |
|---|
- 光学失常、像差测试
- 波前或表面重建
- 光学元件透过率测试
- 平面度测试
- 楔角测试
- 复杂光学系统对准
- 准直
- 焦长测试
- MTF (调制传递函数）
- PSF (点扩散函数）
- Strehl ratio
- 激光光斑品质、光束、M2、发散角测试
|
主要型号及功能特点 |
|---|
产品系列 | 主要特点 | Omi | 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型，价格优惠 | Optino Uno | 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型增加一个固定的准直器，用于光源准直。具有所有光学分析所需的基本功能，包含光纤光源。 15 种针对不同测试需求的配置 无隔行快速读出 1Kx1K 相机信号 固定准直器（平行光管） 基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多项式系数、波阵面、Strehl Ratio 等. 软件根据测到的像散、球差等提供调校指令 根据软件的图形指示，依据参照标准或镜面的CCD像面，对光学元件的焦距进行实时斜率调整 图像分析功能 根据Shack-Hartmann 数据计算MTF、PSF、EE等数据（可选配置） 仿真模拟功能（可选配置）
| Optino Pro 专业版 | 具备Optino Uno 功能外， 增加马达驱动的准直器（平行光管），以及先进的软件功能，具备高度自动化。准直器可自动寻找焦点，也可对光束进行分析。 | Optino EE 工程版 | 具备Optino Pro 所有功能，具备更强大的软件功能，并经过优化，可以使用生产环境中使用，测试速度快。采用回馈 环路控制，并以10Hz的采样频率进行光学质量测试。 | Optino+ Beam profiler 光束分析 | 具备Optino Pro所有功能， 另外加装第二个CCD，用于光斑形貌分析，光束失常及测量可同时在一台设备上实现。 |
|
|
|---|
|
| 干涉仪与波前探测系统比较 |
|
| Optino 波前测试系统相对于干涉仪的优点 |
|---|
| 干涉仪 | Optino 波前系统 | | 1 | 购买、运行、维护费用高 | 非常便宜 | | 2 | 系统体积大，需要大型光学平台 | 结构紧凑，普通桌子就可以 | | 3 | 需要昂贵的隔振平台 | 非常耐用，无需隔振，普通桌子就可以，即使重击桌子也不会影响测试结果或仪器性能 | | 4 | 需要洁净室 | 普通干净的实验室环境足够了 | | 5 | 需要控制测试现场的气流 | 可以在紧靠打磨机器工作现场使用 | | 6 | 需要激光光源 | 普通光源或激光均可 | | 7 | 由于激光波长范围有限，只能工作在有限的几个波长 | 任何波长均可工作，从193nm到1700nm，软件功能不受波长和配置的影响 | | 8 | 仅限于测试平面、球面及浅度非球面测试 | 可以测试深度非球面元件（球形失常值达50λ） | | 9 | 不能测试非规则形状元件 | 可以测试非规则元件，如柱面镜 | | 10 | 动态范围受CCD探测器上干涉条纹限制， | 方法本身具有高动态特性 |
| | Optino Pro vs. Zygo GPI xp HR Interferometer: |
|---|
通过使用Zygo GPI xp HR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino 波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域，进行测试对比。 右图白色圆圈位置的区域即为测试区域，是一个平整的表面，测试的波长为632nm，下图为主要测试得到的参数对比： | | | | | | 去除了倾斜(Tilt)， Piston and 散焦 (defocus)影响后的表面3D形貌图（ Zygo ） | 去除了倾斜和散焦的3D表面形貌图(Optino) |
| | 由上可见:基于Shack-Hartmann 测试原理的Optino 可以获得与Zygo干涉仪一致的测试结果 |
|
