第六代 Phenom Pro 放大倍数提升为 350,000 倍，分辨率优于 6 nm，30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像，可用于测量亚微米或纳米尺度的样品；飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。
飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纤维统计分析测量系统（FiberMetric）、孔径统计分析测量系统（PoreMetric）、颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）、超大视野拼图（Auto Image Mapping）、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如，纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品，而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片，等等…
除此之外，还有各种各样的样品杯可供选择，这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品，还是生物材料，或者其它种类的材料，总有一款合适的样品杯可以提供**的解决方案。
Phenom Pro 主要技术参数
| 光学放大 | 20 - 135 X |
| 电子放大 | 350,000 X |
| 分辨率 | 优于 6 nm |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 加速电压 | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 探测器 | BSD, SED (可选), EDS |
颗粒统计分析测量系统
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片，并生成报告。借助该软件，用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数，颗粒软件全自动化的测量，可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。
借助颗粒系统软件，用户可随时获得数据。因此，它加快了分析速度，并提高了产品质量。
台式扫描电镜在粉末冶金领域的应用
1. 粉体形貌、粒度观察（<10000×，低压 SED）
2. 粉体粒度统计（使用飞纳电镜软件-颗粒统计分析测量系统）
3. 烧结件缺陷检查（使用飞纳电镜软件-超大视野自动全景拼图）
4. 成品表面质量检查+杂质判定（扫描电镜+能谱）
5. 脱脂前后形貌观察