飞纳电镜射击残留物分析（GSR）
飞纳电镜射击残留物分析（GSR）的背散射成像，用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别在该粒子中的元素。zui常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅底火的检测，例如 Ti 和 Zn 也可为搜索条件进行搜索。
飞纳电镜射击残留物分析（GSR）是在台式扫描电镜运行自动射击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室**版 Phenom XL。软件和硬件完全一体化，以提高用户操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目：自动射击残留物分析和分类软件包，BSED 和 EDS 探头内部集成，校准试样。
配备 CeB6 灯丝，使其稳定运行，灯丝寿命不低于 1500 个小时，从可用性，适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间，和快速的全自动马达样品台，使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具，可以用来进行自动射击残留物分析。
飞纳电镜射击残留物分析 Phenom GSR
基于 CeB6 灯丝的高分辨图像
直观易用的 GSR 软件
高吞吐量，一次性放置多达 36 个试样
操作简单，*丢失导航系统，完全集成能谱仪
测量结果准确可靠，广泛兼容法医领域的各类应用
规格参数
| 光学放大 | 3 - 16 X |
| 电子光学放大 | 80 - 100,000 X |
| 分辨率 | 优于 20 nm |
| 数字放大 | Max. 12 X |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 加速电压 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 |
| 真空模式 | 高分辨率模式 降低核电效应模式 高真空模式 |
| 探测器 | 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) |
| 样品尺寸 | zui大 100 mm X 100 mm 可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台 |
| 样品高度 | zui高 65 mm，样品高度全自动调节 |