干法粒度仪
HELOS-GRADIS
GRADIS分散系统适用于那些不需要太高分散能量的样品比如晶体、沙粒、小粒等。下落柱可以对样品提供均匀的分散效果并控制以保持颗粒在通过激光束的时候保持速度一致。它既可用于激光粒度仪主机HELOS，又可用于图像分析仪主机QICPIC。
测试原理：
利用光的衍射现象，即大颗粒产生的衍射角小，小颗粒产生的衍射角大，通过计算探测器上收集到的不同衍射图形的光强分布，来给出颗粒的粒度大小和粒度分布。
检测粒度范围：
0.5- 8750 微米 （可根据实际应用范围配置量程）
测试结果精度：
准确度 | σ ± 1 % 与**值的平均相对标准偏差(x10…x90) |
测试重复性 | σ < 0.3 % 多次取样重复性误差 |
仪器可比性 | σ < 1 % 中位径的平均相对标准偏差 (x50) |
|Δx50| < 2.5 % **相对偏差 |
功能及特点：
1. 如需要，样品可以在测试之后回收再利用
2. 可对非常粗的颗粒进行检测，而每次的样品量可以达到公斤级
3. 下落柱的出口狭缝的宽度2 mm, 4 mm 或者 10 mm可手动选择，以适配样品应用
4. 在一些特殊的应用中，可对下落柱进行导电或者非导电的PTFE镀膜处理