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大塚电子(苏州)有限公司  

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首页 > 供应产品 > 非接触式光学膜厚仪
非接触式光学膜厚仪
单价 面议对比
询价 暂无
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发货 江苏省苏州市
品牌 大塚电子
型号 DRE系列
过期 长期有效
更新 2025-11-15 10:54
 
详细信息

特长

  • 非接触式测量不透明、粗糙,易变形的样品

  • 反复性・再现性高

  • 无标准曲线也可知道**厚度

  • 测量径很小,不受斑点的影响

  • 样品位置无需调整,放进去即可。

  • 稳定性高,不会产生误差,所以谁都能操作。

  • 光学方式原理所以安全

式样

atsumispec(1).gif

构成图・原理

构成图

任何人都会测量

1STEP-01.jpg

1STEP-02.jpg

原理

将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)
ncftm2_2.gif

比较测量方法

样品例子和测量方法的比较


非接触光学膜厚仪接触式膜厚仪X线式膜厚仪変位計
样品凝胶片×
不织布××
金属板
树脂
多孔质×
陶瓷×
紙・木×
测量

测量时间○ 高速
非接触测量○ 非接触×
前处理○ 不要×

测量案例

ncftm4-1.gif

ncftm4-2.gif

ncftm4-3.gif