新一代激光衍射粒度分析仪 LS 13 320 XR
LS 13 320 XR激光衍射粒度分析仪是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作非常简单的干湿两用粒度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。LS 13 320 XR配备有多种新型的样品进样模块，“即插即用”，满足不同的分析要求，灵活便利；**的PIDS技术（***：4953978，5104221），真正实现10nm粒径测量；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作。LS 13 320 XR将为您开启全新的测量体验！
超高分辨率
不论单峰、双峰还是多峰，不论纳米、微米还是纳微米，均可实现高分辨率的检测
宽测量范围：10nm-3500μm
提供真实（峰值）、高分辨率的测试数据，下限低至10nm，上限高达3500μm
升级版 PIDS 技术：更好解决纳米测量挑战
提高原始数据检测精度，提高检测器检测垂直和水平偏振散射光的灵敏度，真正实现亚微米级粒度分析 - 以往极难达到的测量能力
多峰自动检测
测量前无需估计粒度分布情况（比如多峰、窄分布），便可获得真实的测量结果
简单、直观的操作软件
• 从开始测量到获得结果仅需 2 次点击
• 包含一个集成的光学常数数据库
• 随时向您通报有用的用户诊断报告
• 精简的工作流不仅易于使用，更节省时间
验证
这是《生产质量管理规范（GMP）》和其它法规要求所必须的。
LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析仪配备符合GMP要求的验证程序，可满足安装验证（IQ）和运行验证（OQ）所需。
