FLEXTM是来自于CRAIC科技公司的一款经济但是功能强大的紫外-可见-近红外显微分光光度计。FLEXTM可以对微米量级的样品进行无损的吸收、反射和荧光光谱测试。
FLEXTM显微分光光度计从命名上可以看出是一款具有非常好灵活性的仪器。
FLEXTM能够只使用一个镜头测量微光样品从深紫外到近红外范围的光谱。设计的灵活性和经济性，模糊了科研级和工业使用的显微分光光度计的界限。仪器操作简单易用和功能的强大适合于法医鉴定和工业品质检测。
FLEXTM显微分光光度计的特点是将高灵敏度CCD阵列探测器支柱整合到光度计上。每个探测器都是用TE冷却技术达到降低噪声和保证长时工作稳定性的要求，这使得仪器保持了非常优良的信噪比。FLEXTM包含了一台紫外-可见-近红外显微镜，一套高分辨率彩色成像系统，紫外防护目镜，一台运行Windows7专业版系统的主机和一套整合光谱分析/仪器控制的软件包。FLEXTM操作简单、使用长久耐用，能够提供出非常尖端的实验结果。
应用
痕量证据 文检 表面等离子共振 半导体薄膜厚度
光谱范围 | 240 to 900 nm |
反射光谱范围 | 400-900nm |
荧光光谱范围 | 400-900nm |
荧光激发 | 365-546nm |
采集面积 | 1-10000平方微米 |
荧光发射 | 254-546nm |
光谱分辨率 | 1-15nm可调 |
探测器 | CCD阵列 |
探测器制冷 | 半导体制冷 |
扫描时间（全光谱） | *小4ms |
成像 | 彩色 |
成像分辨率 | 高达500万像素 |
操作系统 | Windows 7 ，8 |