l 粒度测量范围 : 0.5nm 到 10µm
l 背向动态光散射原理，实时远程非接触测量
l 监测纳米颗粒合成过程；监测整个过程的粒度变化情况，有助于稳定性研究
l 全自动非接触测量：能穿透玻璃和塑料针管，测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化
l 适用样品浓度：0.1ppm-40%（w/v）
l 时间分辨:
l 随时间变化的粒度分布彩色地形图
l “时间切片”功能：用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析
l 样品前处理：无需样品前处理，直接测试
核心产品详情
原位时间分辨纳米粒度分析仪
产品参数
优先展示后台已配置的完整参数品牌高端
价格10.00
发货地北京市丰台区
型号Vasco Kin
详细信息
北京快威科技有限公司 AI 产品顾问
精简顾问模式，可继续咨询产品参数、适用工况、报价方式、交付周期和合作细节。