精微高博比表面积仪
JW-BK400系列
四站比表面及孔径分析仪
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK400系列高通量全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，该产品配置4个独立并列分析站，测试效率超高，可有效解决纳米粉体材料的比表面介孔大孔高通量分析问题，满足中大型企业多样品、高效率测试需求。
核心产品详情
精微高博比表面积仪
产品参数
优先展示后台已配置的完整参数品牌精微高博
价格0.00
发货地北京市
型号JW-BK400
范围0.35nm-500nm
应用行业医药食品及化工生物工程的技术研发服务：制药设备的制造、销售；仪器仪表、自动化控制设备的研发、生产、销售；节能工程项目技术推广服务，软件开发，信息咨询，货物及技术进出口。
详细信息
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