比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，*常用、*可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，根据测试功能不同可区分为JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三种型号，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr压力传感器，配合二级吸附泵技术，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔径分布需求。
低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析。
孔径范围：0.35nm-500nm
比表面范围：0.0005㎡/g-无上限
孔径重复精度：≤0.02nm
比表面重复精度：≤±1%