澳谱特科技（上海）有限公司  

Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出独特的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，Zeta电位越高，胶体系统就越稳定，反之，Zeta电位越低，胶体系统稳定性就越差，因此通过测量和调整体系的Zeta电位，就可以控制胶体的稳定性。因此，Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究。