ASAP系列仪器微孔分析时自由空间的测量

2025-11-15 IP属地 未知00

许多微孔材料（例如分子筛，活性炭等。）在进行自由空间测量时，由于暴露在He 气中几个小时，会将He 捕捉并保存在它们复杂的孔结构中，最终影响到分析低压区数据，在低压区出现S 型曲线。本文针对这种情况，给出了相应的解决方案，不仅罗列出相应的注意事项和需要采用的工具，还详细的描述了测试文件如何编辑和选择，并进行了举例说明。





 
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