THz时域光谱分析系统

太赫兹时域光谱分析（THz—TDS）

典型的THz时域光谱学系统如图1。用亚皮秒的太赫兹脉冲透过样品，再经一段对称的自由空间后由探测器接收，测量由此产生的电磁场强度随时间的变化（利用傅立叶变换获得频域上幅度和相位的变化量），进而得到样品的信息。这样的测量方法已经成功地用于气体和有机材料的测量。

技术参数：

技术指标

光谱范围：0.1-4.0THz

分辨率： <50GHz(傅立叶变换后)

动态范围：>70dB(峰值处)

工作模式：透射或反射

测试距离：1-40cm

Thz发射端：光电导天线

Thz接受端：ZnTe晶体

软件界面：Labview

通讯接口：USB2.0 & 蓝牙

尺寸： 10.5”×6.25”×2.75”

重量： <4.2ibs

主要特点：

特点

紧凑的Thz发射及接收设计; 实时的光谱显示，探测范围4THz

快速扫描，达20Hz ；透射和发射工作模式

I/O端口，可外部控制; 抗振动结构设计

集成化设计，使用简便 ;USB2.0及蓝牙连接 ;可通过网络远程通讯