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详细说明
型号:
X射线荧光光谱仪
TMS透过率测量仪能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的透过率,可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球面光学元件及组合镜头等的检测。
仪器特点:
检测范围广:球面、非球面、塑料制品散透射等测量
测试速度极快,1秒出结果,实现产品全检
极小样品的透过率检测
测试对象:
手机IR孔
光学元件
太阳眼镜
漫、散射塑料片
技术参数:
型号
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