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详细说明
型号:
n/p交替多层外延
范围:
0.01-0.015
注释
①每一层的载流子浓度和厚度无法直接测量。
②表面缺陷包含彗星缺陷、三角形缺陷、胡萝卜缺陷以及掉落物。
③表面粗糙度使用原子力显微镜进行测量,扫描尺寸为10x10 um2.
注:我司可根据客户定制参数更严格的外延片。
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注释
①每一层的载流子浓度和厚度无法直接测量。
②表面缺陷包含彗星缺陷、三角形缺陷、胡萝卜缺陷以及掉落物。
③表面粗糙度使用原子力显微镜进行测量,扫描尺寸为10x10 um2.
注:我司可根据客户定制参数更严格的外延片。