日本日东精工n-analytech 膜厚分布电阻率自动测量系统MCP-S620型

电阻率自动测量系统

• 全自动测量：测量、计算、数据处理和3D图形输出完全自动化。

• 大样品尺寸测量：样品尺寸可达300mm，可容纳多个样品。

• 多种测量方式：可以通过三种方式进行测量位置设置：网格输入、直线输入和顺序输入。

• 宽测量范围：可连接到Loresta GX，测量范围为10⁻⁴至10⁷Ω。

• 比较器功能：在屏幕上标注范围外的测量结果的测定点。

• 粉末测量功能：可测量粉末的体积电阻率和压制密度。