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详细说明
型号：
JEM-ARM200F NEOARM
范围：
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应用行业：
可对样品点、线、面进行逐点扫描，并可以对微小样品(小于2微米)的微区结构、成分、面貌进行分析鉴定。
inVia配备488nm激光器，可一次连续扫描大范围的拉曼光谱，无需接谱。具有共聚焦和Mapping的功能：可对样品点、线、面进行逐点扫描，并可以对微小样品(小于2微米)的微区结构、成分、面貌进行分析鉴定。
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