BETHEL哈德森研究所热波分析仪TA系列

在逐年开发小型化电子设备时、『热问题的解决』成为一个非常重要的课题。

正确掌握零件及材料的热物性，现在是必不可少的。

本设备『热波分析仪TA35/33/32/31』

◎用于新材料开发的功能确认◎用于产品开发阶段的热设计◎用于制造现场的品质管理◎用于检查缺陷，不均匀性等需要掌握一些热物性时，会广泛的运用在各式各样的工作中。

例如：

电子零件的散热材料的评估、半导体激光的电极评估、热点发电材料的评估、硬质合金工具的镀膜评价

测量实际多种多样：

碳素纤维强化树脂（CFROP），纳米纤维素，纤维素，石墨，碳纳米管，硅胶散热片，多结晶金刚石，陶瓷，高热传导性树脂，一般树脂，玻璃，各种金属，半导体材料，碳素材料，其他

测量对象：固体材料（热扩散率）

测量范围：0.1～1000[x10-6m2s-1]

量测尺寸：**100x100x2mm

量测尺寸：*小10x10x0.015mm