自动缺陷检查和表面粗糙度测量的AFM

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析，从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接，这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外，Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内*低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术，Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量*精确的原子力显微镜。

Higher Throughput, Automatic Defect Review

对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析， 从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接，这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement

业内对于超平媒介和基体的要求越来越高，所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外，Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内*低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术，Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量*精确的原子力显微镜。