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Zeta-APS高浓度纳米粒度仪及Zeta电位分析仪
仪器简介：
Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪，可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。
此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%(体积)浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。
结构设计紧揍，外置的Zeta电位滴定装置(可选配)自动摘定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。
典型应用：
综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。
主要特点：
1)能分析多种分散物的混合体；
2)无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；
3)可适用于高导电(highly conducting)体系；
4)可排除杂质及对样品污染的干扰；
5)可精确测量无水体系；
6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；
7)样品的**浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；
8)具有自动电位滴定功能；
优于光学方法的技术优势：
1)被测样品无需稀释；
2)排除杂质及对样品污染的干扰；
3)不需定标；
4)能分析多种分散物的混合体；
5)高精度；
6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um
优于electroactics方法的技术优势：
1)无需定标；
2)能测更宽的粒径范围；
3)无需依赖Double Layer模式
4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；
5)零表面电荷条件下也可测量粒径；
6)可适用于无水体系；
7)可适用于高导电(highly conducting)体系；
优于微电泳方法的技术优势：
1)无需稀释，固合量高达60%；
2)可排除杂质及对样品污染的干扰；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影响测量；
6)对流(convection)不影响测量；
7)可精确测量无水体系；
技术参数：
1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；
2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；
3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面电荷条件下也可测量粒径；
5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；
6)样品体积：30-230ml；
7)PH范围：0~14;
8)电导率范围：0~10 s/m
