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产品介绍
BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
基本性能指标
粒径检测
| 原理 | 动态光散射技术 |
粒径范围 | 0.3 nm – 15 μm |
样品量 | 3 μL – 1 mL |
检测角度 | 90 ° + 11.2° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta电位测试
| 原理 | 相位分析光散射技术 |
Zeta范围 | 无实际限制 |
电泳迁移率范围 | ＞±20 μm.cm/V.s |
电导率范围 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta测试粒径范围 | 2 nm – 120 μm |
分子量测试
| 分子量范围 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流变测试
| 频率范围 | 0.2 – 1.3 x 107 rad/s |
测试能力 | 均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 |
折光率和粘度测试
| 粘度范围 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范围 | 1.3-1.6 |
趋势测试
| 时间和温度 |
系统参数
| 温控范围 | -15°C - 110°C，精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空气或者氮气 |
标准激光光源 | 50 mW 高性能固体激光器， 671 nm |
相关器 | ≥25 ns采样，≤ 4000通道，1011动态线性范围 |
检测器 | APD （高性能雪崩光电二极管） |
光强控制 | 0.0001% - 100%，手动或者自动 |
软件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
检测参数
●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布
●分子量
●分布系数 PD.I
●扩散系数 D
●流体力学直径 DH
●颗粒间相互作用力因子 kD
●溶液粘度
检测技术
●动态光散射
●电泳光散射
●相位分析光散射
●静态光散射
相关技术
相关应用
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